主要特點(diǎn)：
X-Strata920 是一款簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制 XRF 臺(tái)式熒光系統(tǒng)，用于簡(jiǎn)便、快速的鍍層厚度測(cè)試和材料分析。X-Strata920 可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測(cè)定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測(cè)量。
主要特點(diǎn)包括：
? 成本低、快速、非破壞的 EDXRF 分析
? 可完成至多 4 層鍍層（另加底材）和 15 種元素的鍍層厚度測(cè)試，自動(dòng)修正 X 射線重疊譜線
? 優(yōu)異的多元素辨識(shí)，廣泛覆蓋元素周期表上從鈦（22 號(hào)）到鈾（92號(hào)）各元素
? 測(cè)厚行業(yè) 20 年知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)的積淀
性能和標(biāo)準(zhǔn)：
使用廣受推崇的能量色散 X 射線熒光（EDXRF）技術(shù), X-Strata920 可實(shí)現(xiàn)如下測(cè)試要求：
? 符合 ISO3497 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：金屬鍍層—X 射線光譜法測(cè)量鍍層厚度
? 符合 ASTM B568 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：X 射線光譜儀測(cè)量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
? 至多同時(shí)分析 25 種元素
地址：樂清市北白象鎮(zhèn)白象大道154號(hào)
電話：0577-62876755
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